目前，研究人员已开发出一种测试手段，可使女性在怀孕前发现是否携带有这种缺陷基因，以便未来找到可能的治疗方法。
研究人员称，染色体上有大约800个基因，目前已在X染色体上发现有大约85个基因和各种形式的智力缺陷相关。
性染色体可能与胎儿智力发育有关
染色体异常是出生缺陷的重要原因，也是试管婴儿技术中造成80%的体外受精胚胎无法发育成足月健康婴儿的“罪魁祸首”。
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胚胎植入前遗传学诊断（PGD）又称为孕前诊断，是胚胎植入子宫之前进行的遗传学诊断，淘汰遗传学不正常的胚胎，仅将遗传学正常的胚胎植入子宫，是积极性优生的一种方式。与妊娠到中期抽取羊水进行产前诊断技术相比，孕前诊断因为植入正常的胚胎，避免了产前诊断发现胎儿异常后需要进行选择性流产的缺点。
胚胎植入前遗传学筛查（PGS）是一种在全部染色体水平进行遗传学诊断的全新孕前诊断技术。PGD技术只能检测少数几条染色体是否异常， PGS可以检测全部染色体组的数目异常，目前包括的技术包括单核苷酸多态性芯片、比较基因组杂交芯片或者全基因组测序技术。
